elektrophysik測(cè)厚儀MiniTest 730參數(shù)
elektrophysik測(cè)厚儀MiniTest 730參數(shù)
SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
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